產品功能

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  醫用 XR-100CdTe 探測器

  Medical XR-100CdTe Detector

  X-123CdTe

  探測器系統設計用於同時測量 X 射線管峰值電位（kVp）和乳腺 X 射線管光譜圖。

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  無鈹 ( Beryllium ) X 射線視窗

  Beryllium Free X-Ray Windows

  B4C

  Amptek 宣佈推出碳化硼 （B4C） 用於 Amptek 的 FAST SDD® 和 SiPIN 探測器的視窗。該產品是多年努力的結果，旨在為最終使用者和 OEM 製造商提供標準鈹 （Be） 箔的高性能視窗替代品。

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  FAST SDD® 和 C2 視窗的 EDS（SEM）應用

  EDS (SEM) Applications FAST SDD and C2 Window

  DS (SEM) Applications FAST SDD® and C2 Window

  Amptek 很自豪地為掃描電子顯微鏡（SEMs）中的能量散射X射線譜（EDS）推出了一款改進的矽漂移探測器（SDD）。 使用Amptek專有的專利“C 系列”氮化矽（Si3N4）X 射線視窗，Amptek FAST SDD的低能量回應可擴展到鈹（Be）。 具有高固有效率的FAST SDD是EDS的理想選擇，EDS也被稱為能量散射X射線譜測量（EDX 或 XEDS）和能量散射X射線分析（EDXA）或 能量散射X射線微量分析（EDXMA）。

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  校正器把手

  Handle for calibrators

  U101

  Handle for carrying C101, C200, C300 and C300B series calibrators and setting them in adequate angle with relation to horizontal level.

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  SFP 火焰光度計

  SFP Flame Photometer

  SFP

  BWB的火焰光度計不斷在低溫火焰領域突破規則的限制，我們的產品開發計畫從第一天起就根據客戶的需求作啟發。我們與許多商業和學術組織建立了牢固的互利合作夥伴關係，這些組織面臨著特定的挑戰，都藉由 BWB 特殊火焰光度計得到完美的解決方案。

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  零高斯室

  Aaronia Zero-Gauss-Chamber

  Zero-Gauss-Chamber

  Aaronia Zero-Gauss-Chamber 可建立無磁場環境，在無靜態磁場或地球磁場的條件下校正設備和感測器。

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  有源磁場天線

  MDFXSeries

  MDF 系列由極寬頻有源磁場測向天線組成，不僅可用於訊號測定方向性外，還可用於場強測量。

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  掃頻頻譜分析儀

  Sweep Spectrum Analyzers

  SPECTRAN NF Series

  檢測磁場和電場及其原因、確定頻率和訊號強度、測量和評估甚至最複雜的限制 - 所有這些都可以透過 Aaronia NF 測量儀器輕鬆實現。

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  電池充放電機

  Battery Cyclers

  OctoStat5000

  • 每個通道：±5A/±10V  FRA/EIS：10µHz-100kHz（可選購 1MHz）。
  • 8通道恒電位/恒電流/ZRA分析儀。
  • 19 “機架式外殼。
  • 極具經濟實惠的高規格電化學測試系統。

  
  該儀器專為多電池長時間並行測量的應用而設計，例如電池/燃料電池測試、電極開發、生物技術和腐蝕。

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  大電流恒電位/恒電流儀

  High Power Potentiostat/Galvanostat Analyzer

  Electrolyser HE80

  HE80是一台整合FRA/EIS的電解工作站。 擁有+0.5至+20V的電壓範圍和0至+80A的電流範圍，並且在設計時特別考慮了電解槽/氫氣生成、電池充電和電沉積。

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