產品功能
features
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EM 探測器和前置放大器配置
OEM Detector & Preamplifier ConfigurationsOEM Detector & Preamplifier ConfigurationsAXR/PA-210 或 AXR/PA-230 專供該領域的專家/OEM 使用。 可以使用任意 Amptek 探測器（Si-PIN、SDD 或 CdTe）。 此配置有許多選項，如下所示。
客戶需要解決散熱問題併為 AXR/PA-210 或 AXR/PA-230 準備一個定製外殼。 如果使用PA210/PA230外殼，則需要為外殼提供額外的散熱。
此外，客戶還需要準備多個外部電源、一個整形放大器和 MCA 或數位處理器以及與主機的通信。加入諮詢加入諮詢 -
醫用 XR-100CdTe 探測器
Medical XR-100CdTe DetectorX-123CdTe探測器系統設計用於同時測量 X 射線管峰值電位（kVp）和乳腺 X 射線管光譜圖。加入諮詢加入諮詢 -
無鈹 ( Beryllium ) X 射線視窗
Beryllium Free X-Ray WindowsB4CAmptek 宣佈推出碳化硼 （B4C） 用於 Amptek 的 FAST SDD® 和 SiPIN 探測器的視窗。該產品是多年努力的結果，旨在為最終使用者和 OEM 製造商提供標準鈹 （Be） 箔的高性能視窗替代品。加入諮詢加入諮詢 -
FAST SDD® 和 C2 視窗的 EDS（SEM）應用
EDS (SEM) Applications FAST SDD and C2 WindowDS (SEM) Applications FAST SDD® and C2 WindowAmptek 很自豪地為掃描電子顯微鏡（SEMs）中的能量散射X射線譜（EDS）推出了一款改進的矽漂移探測器（SDD）。 使用Amptek專有的專利“C 系列”氮化矽（Si3N4）X 射線視窗，Amptek FAST SDD的低能量回應可擴展到鈹（Be）。 具有高固有效率的FAST SDD是EDS的理想選擇，EDS也被稱為能量散射X射線譜測量（EDX 或 XEDS）和能量散射X射線分析（EDXA）或 能量散射X射線微量分析（EDXMA）。加入諮詢加入諮詢 -
校正器把手
Handle for calibratorsU101Handle for carrying C101, C200, C300 and C300B series calibrators and setting them in adequate angle with relation to horizontal level.
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SFP 火焰光度計
SFP Flame PhotometerSFPBWB的火焰光度計不斷在低溫火焰領域突破規則的限制，我們的產品開發計畫從第一天起就根據客戶的需求作啟發。我們與許多商業和學術組織建立了牢固的互利合作夥伴關係，這些組織面臨著特定的挑戰，都藉由 BWB 特殊火焰光度計得到完美的解決方案。加入諮詢加入諮詢 -
零高斯室
Aaronia Zero-Gauss-ChamberZero-Gauss-ChamberAaronia Zero-Gauss-Chamber 可建立無磁場環境，在無靜態磁場或地球磁場的條件下校正設備和感測器。加入諮詢加入諮詢 -
掃頻頻譜分析儀
Sweep Spectrum AnalyzersSPECTRAN NF Series檢測磁場和電場及其原因、確定頻率和訊號強度、測量和評估甚至最複雜的限制 - 所有這些都可以透過 Aaronia NF 測量儀器輕鬆實現。加入諮詢加入諮詢 -
電池充放電機
Battery CyclersOctoStat5000- 每個通道：±5A/±10V FRA/EIS：10µHz-100kHz（可選購 1MHz）。
- 8通道恒電位/恒電流/ZRA分析儀。
- 19 “機架式外殼。
- 極具經濟實惠的高規格電化學測試系統。
該儀器專為多電池長時間並行測量的應用而設計，例如電池/燃料電池測試、電極開發、生物技術和腐蝕。加入諮詢加入諮詢
