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Coxem

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  • 掃描穿透式電子顯微鏡

    掃描穿透式電子顯微鏡

    STEM
    STEM
    可選購的STEM 是一種分析工具,用於在台式 "掃描電子顯微鏡"(SEM)的基礎上,透過檢測電子槍產生的電子束以二維方式投射到試樣上的電子,產生透射影像。這種工具可以讓 "生命科學 "領域的學者利用其細小的盲文光束( braille beams)和豐富的亮度,觀察表面下的細胞訊息及其結構,以及材料科學領域的奈米結構。
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  • 桌上型掃描式電子顯微鏡

    桌上型掃描式電子顯微鏡

    Benchtop SEM
    EM-40
    EM-40 是 COXEM 最新推出的桌上型掃描電子顯微鏡。 EM-40 配備了超快的第五代訊號處理技術,可提供影格速率高達 13 fps 的高品質成像。 四種成像模式(快速、慢速、超快速和照片)可讓使用者選擇最適合其應用的影像品質和速度。
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  • EDS探測器

    EDS探測器

    Oxford / Bruker
    Oxford: AZtecOne with XploreCompact ∣ Bruker: QUANTAX Compact
    AZtecOne 系統結合了簡單易用、功能強大的 AZtecOne 軟體和 30mm2 XploreCompact EDS 探測器,提供了久經考驗的穩定性和準確性。

    QUANTAX Compact 是一種模組化 EDS 系統,用於工業、研究和教育領域的定性和定量微量分析。
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  • 落地式掃描電子顯微鏡

    落地式掃描電子顯微鏡

    Full-size SEM
    CX-200Plus
    CX-200plus 是一款全尺寸落地式掃描電子顯微鏡 (SEM),無論是新用戶還是有經驗的用戶,都會發現它適用於許多類型的嚴格研究和品質控制要求。 CX-200plus 的標準配備包括 SE 和 BSE 成像探測器,以及用於輕鬆調整平台傾斜和高度的內腔視角攝影機。 CX-200plus 具有高解析度成像能力,而且價格極具吸引力。 在對 CX-200plus 進行評估之後,您就可以輕鬆找到最具成本效益的解決方案了。
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  • 冷台

    冷台

    Cool Stage
    CSU-2
    冷台是一種輔助設備,用於快速冷凍液體樣品或含水分的樣品,使其保持當前狀態,以便有效地進行拍攝。此外,它還可以加熱,因此可以即時觀察樣品隨溫度變化而產生的變化。
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  • 桌上型掃描式電子顯微鏡

    桌上型掃描式電子顯微鏡

    Benchtop SEM
    EM-30N
    EM-30N 是 COXEM 面向奈米機電一體化時代持續投入技術和開發的產物,即使在高倍率下也能提供無雜訊的清晰影像,其全景功能可掃描更廣闊的區域。
    此外,它還與 EDS 完全相容,從而最佳化了效能。EM-30N 的性能和價格都令人滿意,它將在所有研究領域大放異彩,為先進技術的開發和利用提供卓越的成果。
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  • BSE 探測器

    BSE 探測器

    BSE Detector
    BSE Detector
    反向散射電子(BSEs)是主電子束與樣品之間的引起相互作用所產生的高能量電子。
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  • 桌上型掃描式電子顯微鏡

    桌上型掃描式電子顯微鏡

    Benchtop SEM
    EM-30(P)
    EM-30 系列是一款高解析度桌上型掃描式電子顯微鏡 (SEM),其規格和功能是同價位的其它 SEM 無法比擬的。
    在對 EM-30 系列進行評估之後,您就可以找到最好的小型掃描式電子顯微鏡了。
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  • 自動化鍍金機

    自動化鍍金機

    Ion Sputter Coater
    SPT-20
    SPT-20 離子鍍膜機是一種利用直流濺鍍原理將導電材料(金、鉑、鈀、鉑鈀)鍍膜到樣品表面的設備。非導電樣品也用於在電子顯微鏡下進行觀察,用來保護樣品表面不受注入的電子束的影響,並幫助電子流動。它也可用於薄膜型電極的形成。
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  • 截面拋光機

    截面拋光機

    Ion Beam Polisher
    CP-8000+
    CP-8000+ 是一種先進的樣品製備工具,可利用氬離子束蝕刻樣品的橫截面。 此過程可避免物理變形和結構損壞,而無需複雜的化學過程。 此外,該系統還能處理從幾十㎛到幾mm㎛的大面積樣品,從而簡化了樣品的橫斷面分析。
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